BOD快速测定仪

BOD快速测定仪   型号：RE-BOD-220A

主要技术指标：

测量原理：微生物膜电法

方法标准：HJ/T86-2002

测量范围：2~4000mg/L

样品测量时间：8min

相对标准偏差：≤5%

BOD快速测定仪传感器：

传感器特点：

带参比电的三电一体芯传感器
信号输出：微生物电0~20μA

流通式设计：

流通池与测量池合二为一，测量清洗方便快捷

睡眠装置：

可使微生物膜保持休眠状态

微生物膜：

微生物菌种：

采用InterBio（EPA认证）技术的BOD5菌种

微生物膜特点：

夹层干式膜，无毒无害

微生物膜寿命：

常温干燥保存一年以上，活化寿命30天以上

性能特点：

进样方式：由蠕动泵驱动恒速流通连续进样

恒温方式：反射式加垫恒温罐，控温精度达0.1℃

通讯接口：RS-232接口，可扩展连接24位全自动进样装置

所需样品体积：大于40ml

数据存储及打印：可存储99组数据，自备微型打印机

外部尺寸：              540mm长×370mm宽×225mm高

环境温度：               5－40℃

产品名称：交流电流数字钳形表 数字钳形表 钳形表 产品型号：MS2008B 交流电流数字钳形表 数字钳形表 钳形表 型号：MS2008B  符合GB/T 13978-92数字多用表通用技术条件  符合GB4793.1-1995（IEC-61010-1）电子测量仪器安全要求  属二级污染，过压标准为CAT III 600V  二次注塑外壳  钳头照明功能  自动/手动量程  数据保持  自动关机  背景光  显示器：Z大显示数3999  交流电流：4A/40A/400A/600A±2.0%  直流电压：400m/4V/40V/400V/600±0.8%  交流电压：400mV±3.0%,4V/40V/400V/600V±1.0%  电阻：400Ω/4kΩ/40kΩ/400kΩ/4MΩ±1.2%, 40MΩ±2.0%  电容：50nF/500nF/5μF/50μF/100μF±4.0%  频率：50Hz/500Hz/5000Hz/50kHz/100kHz±1.0%  温度测试  占空比测试  通断测试  二管测试  钳口Z大张开尺寸：Φ26mm  电源：1.5V（AAA）×3  外形尺寸：208×78×35 mm  重量：约240g（不含电池）

产品名称：交流电流数字钳形表 数字钳形表 钳形表 产品型号：MS2008B

交流电流数字钳形表 数字钳形表 钳形表 型号：MS2008B 
符合GB/T 13978-92数字多用表通用技术条件 
符合GB4793.1-1995（IEC-61010-1）电子测量仪器安全要求 
属二级污染，过压标准为CAT III 600V 
二次注塑外壳 
钳头照明功能 
自动/手动量程 
数据保持 
自动关机 
背景光 
显示器：Z大显示数3999 
交流电流：4A/40A/400A/600A±2.0% 
直流电压：400m/4V/40V/400V/600±0.8% 
交流电压：400mV±3.0%,4V/40V/400V/600V±1.0% 
电阻：400Ω/4kΩ/40kΩ/400kΩ/4MΩ±1.2%, 40MΩ±2.0% 
电容：50nF/500nF/5μF/50μF/100μF±4.0% 
频率：50Hz/500Hz/5000Hz/50kHz/100kHz±1.0% 
温度测试 
占空比测试 
通断测试 
二管测试 
钳口Z大张开尺寸：Φ26mm 
电源：1.5V（AAA）×3 
外形尺寸：208×78×35 mm 
重量：约240g（不含电池） 

产品名称：数字式电阻率测试仪 电阻率测试仪 产品型号：M-2

数字式电阻率测试仪 电阻率测试仪型号：M-2

M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量 
M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。 
仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。 
仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合. 
M-2型数字式电阻率测试仪工作条件为： 
温度： 
相对湿度： 60% ~ 70% 
工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源 
  
二·M-2型数字式电阻率测试仪 技术参数 
1. 测量范围： 
电阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方块电阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
电阻：10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可测半导体材料尺寸 
直径：15mm-100mm 
长（或高）度：≤400mm 
3. 测量方位： 
轴向，径向均可 
4. 数字电压表 
量程：2V 
误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
zui大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
显示：4位数字显示，小数点自动显示 
5. 数控恒流源 
电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。 
误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探针测试探头： 
探针间距： 1mm 
探针机械游移率：± 1% 
探针：碳化钨，直径0.5mm 
7.电源： 
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz 
输出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高)