土壤硬度计TC-TYD-1

土壤硬度计TC-TYD-1 本土壤硬度计是利用压力计之理论值Kg/Cm2,直接测量出土壤的硬度值。

产品型号：TC-TYD-1

更新时间：2019-06-04

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详细介绍

土壤硬度计TC-TYD-1

本土壤硬度计是利用压力计之理论值Kg/Cm2,直接测量出土壤的硬度值。
对于土壤的透水性，通气性及大型机器作业的土壤性质调查研究，利用此土壤硬度计非常方便准确。

土壤硬度计TC-TYD-1 特点或功能：

土壤硬度计测定方法:
1. 先将欲测量的土壤表面整平，然后将本器*部份全部插入土壤中，直到（口）部份。
2. 垂直順向拔出土壤硬度计，并从表上读取硬度指示值。
3. 读取测值完毕，请旋转从动针旋鈕，使指示表归零。
4. 如果側头內部附着土壤，将会使测量值变为不正确，请逆时针方向旋转（口）部，取下此圆套筒，请清理干净后转至固定位置，即可再次测量。

土壤硬度计技术参数

硬度指示范围:
• 0 ~ 40 mm
• 0 ~ 500 Kg/Cm2

产品名称：高频光电导少子寿命测试仪少子寿命测试仪
产品型号： LT-1

高频光电导少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号： LT-1

1、用途

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2、设备组成

2.1、光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ

红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）脉冲电流：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源

频率：30MHz 低输出阻抗输出功率＞1W

2.3、放大器和检波器

频率响应：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。

3、测量范围

LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ

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