技术文章_第(106)页－北京同德创业科技有限公司

2024-7-23

智能大流量TSP采样器型号：JJG-1000产品简介本仪器采用滤膜称重法捕集环境空气中总悬浮颗粒物（TSP）或可吸入颗粒物（PM10/PM2.5），可供环保、卫生、安监、军事、科研、教育等部门用于气溶胶常规监测。执行标准HJ/T374-2007《总悬浮颗粒物采样器技术要求及检测方法》JJG943-2011《总悬浮颗粒物采样器》HJ618-2011《环境空气PM10和PM2.5的测定重量法》HJ/T93-2013《环境空气颗粒物（PM10和PM2.5）采样器技术要求及检测方法》...

了解更多

数字式四探针检测仪SZT-2000 数字式四探针检测仪型号：SZT-2000是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续... 查看详情 2020-12-09
二探针单晶硅及多晶硅测试仪GL-1 二探针单晶硅及多晶硅测试仪型号：GL-1本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和加工。为适应大规模集成电路的迅猛发展，特别是计算机芯片、内存的发展，越来越多的使用到了大直径、高纯度、均匀度更高的单晶硅材料。目前，在美国、德国等先进的工业国家，均采用了二探针法，使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。仪器符合美国ASTM《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准，是一种新型的半导体电阻率测试仪，适合半导体材料厂和器件... 查看详情 2020-12-09
电阻测试仪TC-DB-4 电阻测试仪型号：TC-DB-4一。概述是运用直流电流－电压法测量原理，根据国家标准GB3048.3.2007-研制成的精密测量设备，主要用于测量半导电橡塑和塑料中间试样电阻率，各种导电橡塑中间试样以及导电橡塑产品电阻；换上特殊的端子测试夹还可以测量低、中值金属导体材料及产品的电阻。仪器为台式结构，主要由电气箱、测试架两大部分组成，固定在工作台上。电气箱包括高灵敏度的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源，由集成电路和晶体管电路混合组成，测量结果由LED数字直接显示，测量电流输出也... 查看详情 2020-12-09
电阻高温测试架 DB-4 电阻高温测试架型号：DB-4测试架是与本公司生产的DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪的配套产品。TC-DB-4仪器是检测半导电橡塑材料在23°C时的电阻率值，配上本测试架后可以扩展功能，将本测试架放入烘箱，可以检测该材料在0~180°C高温下，电阻率变化值。本测试架有以下特点：1、技术性能*符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电、电压电，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。2、投资少具有标准接口，能与TC-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻仪配套使用，能满... 查看详情 2020-12-09
电缆电阻测试仪BT-900A 电缆电阻测试仪型号：BT-900A是根据国标GB11017-89所规定的测试方法和技术指标而设计的，用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻仪器由电气箱和测试架两大部分组成，测试架具有夹持加压机构，能够良好地夹紧各种不同直径的屏蔽电缆，具有环形准确度达0.3%的电位电和电流电确保仪器取样位置精度高、使用方便、外形轻巧，适应在常温和... 查看详情 2020-12-09
电线电缆导线电阻测试仪ST-1 电线电缆导线电阻测试仪型号：ST-1是测量电线电缆电阻的仪器，它是引用测量导线电阻率的技术而设计的高级的具有高灵敏度高精度的低电阻测量仪器，其性能*符合GB3048.2—94的技术要求，它由高灵敏度高精度直流数字电压表和宽范围高稳定大功率直流恒定电流源所组成，根据直流电流—电压降原理制成，由于采用了四端子测量技术，能有效地消除在测量时因接触电阻和引线电阻带来的误差，可以克服以往采用双臂电桥测量操作繁琐、灵敏度低、误差大等问题。仪器测量低电阻灵敏度高达0.1μΩ,仪器采用1mA... 查看详情 2020-12-09

共 5570 条记录，当前 106 / 929 页首页上一页下一页末页跳转到第页