白度测定仪

白度测定仪

主要用途 
白度测定仪 BD-07适用于非彩色表面平整的物体或粉末的白度测量，可以准确地测出与视感度相*的白度值。 
功能特点 
★测定ISO白度（ISO Brightness，即R457白度),对荧光增白的试样,还可以测定其中荧光物质发射产生的荧光增白度。 
★测定明度刺激值Y10。  
★测定不透明度（Opacity）。  
★测定透明度。  
★测定光散射系数和吸收系数。  
★测定油墨吸收值。  

适用范围  
油漆涂料 用于测试油漆、涂料、油墨等的白度和吸收值。  
纸张    检测纸张的荧光白度。  
镀铝    可以测试铝箔的透明度、不透明度、白度。  
塑料    用于塑料、粉末的白度测量。  

★符合GB3978-83：标准照明体和照明观测条件  
★D65照明体照明  
 采用d/o照明观测几何条件（ISO2469）  
★测试孔直径有φ30mm和φ19mm两种，设有光吸收器，消除了试样镜 面反射光的影响  
★R457白度光学系统的光谱功率分布的峰值波长457nm，半高宽44nm  
★RY光学系统符合GB3979-83：物体色测量方法  
  技术指标  
零点漂移       ≤0.1  
示值漂移       ≤0.1  
示值误差       ≤0.5  
重复性误差     ≤0.1  
镜面反射误差   ≤0.1  
外形尺寸     365mm×265mm×390mm（长宽高）  
重量          11Kg  
环境要求  
环境温度   15～40℃  
相对湿度   不过85%  
工作电源    220V 50Hz   
标     准  
GB7973、GB7974、ISO 2470、GB 13025.2、GB 8940.2、GB 1840、GB 2913、GB 1543-88、ISO 2471、GB10339-89、GB T/5950  

配     置  
标准配置:主机、白板、黑筒 

产品名称：数码控制声波清洗机 单通道声波清洗机 产品型号： TD-2013D

数码控制声波清洗机  单通道声波清洗机 型号：TD-2013D

产品信息 
声波清洗机采用声波清洗的原理，可以达到物件全面洁净的清洗效果，特别对深孔，盲孔，凹凸槽清洗是的设备，不影响任何物件的材质及精度。其清洗速度及效果比传统清洗方法可提高几倍，甚至几十倍。同时在生化、物理、化学、医学、科研及大专院校的实验中可作提取、脱气、混匀、细胞粉碎、纳米分解之用。 
产品介绍 
1、清洗槽采用不锈钢SUS304一次冲压成型，无焊接处，防水性能好。 
2、清洗篮采用不锈钢SUS304网筛氩焊成型，提高清洗效果。 
3、清洗机外壳采用优质不锈钢压花板制作，美观大方。 
4、工作时间数码控制，LED数字显示，1-99分钟任意可调，满足不同清洗需求。 
5、清洗温度在0-80℃范围内任意可调。 
6、清洗器的每个声换能器发射功率为50瓦。 
7、6升及以上配有排水阀，人性化设计，快捷排出清洗废水。 
8、采用优质进口核心部件，声波功率转换效率高，功率强劲，清洗效果好。 
9、*散热系统，元器件工作更稳定。 
10、陶瓷加热，加热效果好。 
11、PCB板防潮、防腐蚀处理 
产品参数 

容    量：13L 
内槽尺寸：330*300*150mm 
外形尺寸：360*330*310mm 
声功率：300W 
加热功率：500W 
声频率：40KHz 
工作时间：1-99分钟可调，LED倒计时显示精确到秒 
清洗温度：0-80℃可调 
适用行业：  
1、机械行业：防锈油脂的去除，机械零部件的除油除锈，发动机、化油器及汽车零件的清洗，过滤器、滤网的疏通清洗等。  
2、表面处理行业：电镀前的除油除锈，离子镀前清洗、磷化处理，清除积炭，清除氧化皮，清除抛光膏，金属工件表面活化处理等。  
3、仪器仪表行业：量具的清洗，精密零件装配前的高清洁度清洗等。  
4、电子行业：印刷线路板除松香、焊斑；高压触点等机械电子零件的清洗等。  
5、医疗行业：医疗器械的清洗、消毒、杀菌，实验器皿的清洗等。  
6、半导体行业：半导体晶片的高清洁度清洗。  
7、钟表、饰行业：清除油泥、灰尘、氧化层，抛光膏等。  
8、化学、生物行业：实验器皿的清洗、除垢。  
9、光学行业：光学器件、眼镜的除油、除汗，清灰等。  
10、纺织印染行业：清洗纺织锭子、喷丝板等。  
11、石油化工行业：金属滤网的清洗疏通、化工容器、交换器的清洗等。  
详细 

产品名称：单目生物显微镜 生物显微镜 产品型号： XSP-1CA

单目生物显微镜 生物显微镜型号：XSP-1CA  
具有功能齐全,成像清晰,性价比高等优点。适合于小型医院做人体三大常规化验以及农、林、渔养殖业等小型单位做分析化验。总放大倍数：40-1600X  
一、功能与特点：  
1、传统机型，质量稳定，性价比高。  
2、采用可升降阿贝聚光镜，聚光调节范围大，衬度好。  
3、采用行星式同轴粗微动调焦装置，调焦舒适平稳。  
4、采用带有刻度标尺的双层机械载物台，同轴纵横向调节手轮，操作更灵便。  
镜筒：单目   
聚光镜和光栏：阿贝聚光镜可变光栏和滤色片   
目镜：惠更斯目镜H5X，H10X，H16X   
消色差物镜：10X，40X(S)，100X(S)，   
照明：卤素灯6V/20W   
电源：自然光源

产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V 产品名称：光耦参数测试仪 产品型号：JFY3010A 光耦参数测试仪型号：JFY3010A JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍  ※概述:  JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。  ※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦  ※             测量参数: 参数指标表: 参数項 测试参数 测试条件设置 输入正向压降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐压(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 传输比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 饱和压降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 输出漏电流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 输入反向漏电流(IR) 0-1mA VR=4V