数字式浊度仪

数字式浊度仪   型号：TR-WGZ-1

● 浊度介绍
　　浊度，即水的混浊程度，由水中含有微量不溶性悬浮物质，膠体物质所致，ISO标准所用的测量单位为FTU（浊度单位），FTU与NTU（浊度测定单位）*。
● 用途
　　可供水厂、电厂、工矿企业、实验室及野外实地对水样浑浊度的测试。
● 主要精度指标及测量范围
测量范围 0.0-20.0NTU (FTU) 20-150 NTU (FTU)
分辨率 0.1与1 NTU
准确度 5% F.S
工作环境温度 0-35℃
电源电压 220±20V，50HZ或8节5号电池
● 仪器外形、结构
1、外壳 2、量程指示灯
3、保险丝座 4、电源插座
5、交直流拔动开关 6、样品室盖
7、数显窗 8、调零手轮
9、量程选择键 10、电源开关
数字式浊度仪●仪器工作原理
　　用一定的入射光强透过同一厚度不同浊度的水样时，将得到不同的透射光强，其消光值和浊度成正比，仪器通过计量透射光强，并经过电路处理，即得到水样的浊度值。
●仪器主要特点
水样杯具有防雾性能：故能在梅雨季节也能对水样进行浊度测定。
交直流两用，便于携带。

产品名称：高温环境热压力监视记录器 热辐射仪 黑球温度计  产品型号：TD-1369 中国台湾 高温环境热压力监视记录器/热辐射仪/黑球温度计 型号：TD-1369  产品特点  高温环境热压力监视记录器TD-1369 应用: 矿场：煤矿场、石油矿场、金矿场...等提炼场：石化工业、钢厂、铝厂...等制造场：玻璃厂、造船厂、砖厂、水泥厂...等   主要特性  特点:  高温环境区域监视记录器  快速WBGT测量以评估环境产生之热压力  风速测量  Z大值、Z小值记录功能  自动、手动数据记忆功能  读值锁定功能  自动关机功能  规格:  测量项目 辐射球、干球、湿球温度及风速   测量计算项目 室内幅射球湿球(WBGTin)、室外幅射球湿球(WBGTout)、热指标及风冷指标   温度测量 感应器:NTC   范围:-5℃ 至 +100℃ (23℉ 至 212℉)   分辨率:0.1℃/ 0.1℉   准确度:±0.5℃/ ±0.9℉   风速测量 感应器:加热式白金电阻   范围:0至20m/s   分辨率:0.1m/s   准确性：±(4%读值 + 0.1m/s)   记忆容量 手动:99组   自动:65000组   操作条件 -5℃至60℃ (23℉至140℉) , 0%RH至100%RH (未凝结)   电源 一只9V电池或交流电源转换器   电池寿命 约8小时   尺寸 221(高) × 154(宽) × 53(厚)mm   重量 约1000g   附件 说明书、电池、手提携带盒、RS-232缆线、CD软件、交流电源转换器、10米感应器缆线、2"辐射球、6"轴射球

产品名称：多功能数字式四探针测试仪 产品型号： ST2258C

多功能数字式四探针测试仪 型号： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 
      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，大分类10类。 
      探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。   
      测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》   
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。   
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 

 基本技术参数

1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级） 
    电    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    电 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方块电阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等级 

4.工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（高）  
   净   重：≤1.5～2.0kg