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彩色亮度计 亮度仪

彩色亮度计 亮度仪
ZY-XYL-VI型彩色亮度计采用新一代全数字测量技术,不包含任何模拟部分,克服了现有彩色亮度计难以避免的零点漂移问题,具有数字系统的强抗干扰能力和高转换精度,同时仪器采用了大动态范围的数字X(λ)Y(λ)Z(λ)传感器,消除了传统 彩色亮度计的量程切换误差。

产品型号:ZY-XYL-VI

更新时间:2019-05-24

彩色亮度计 亮度仪 型号: ZY-XYL-VI

ZY-XYL-VI型彩色亮度计采用新一代全数字测量技术,不包含任何模拟部分,克服了现有彩色亮度计难以避免的零点漂移问题,具有数字系统的强抗干扰能力和高转换精度,同时仪器采用了大动态范围的数字X(λ)Y(λ)Z(λ)传感器,消除了传统 彩色亮度计的量程切换误差。
    ZY-XYL-VI型彩色亮度计功能强大,可用于色品坐标x、y,亮度Y和相关色温Tc测量,可对应于不同的光源进行精密色度校准,使其针对不同对象的测量具有高的检测精度。XYL-VI型彩色亮度计采用瞄准式测量方法,通过人眼直接目视瞄准目标物、调节焦距、变换视角等方法对目标物进行测量,减少测量过程中的人为或外界误差。
   XY- XYL-VI型彩色亮度计内包含RS232接口,由计算机软件定标,同时可用于计算机远程在线监控应用,系统稳定性高

彩色亮度计 亮度仪 特点:

  • 技术:消除距离误差

  • 可以实现快速测量

  • 一级亮度标准

  • 系统无零点漂移

  • 无换挡误差

  • 全量程测量,精度高

  • 用:

         快速测量白炽灯,卤素灯,节能灯,金卤灯,LED,LCD等各种光源亮度,相关色温等颜色参数 。各种显示屏测量,道路照明测量,物体表面亮度测

  • 技术指标:

    • 亮度特性Y
      Y(λ)传感器光谱响应达一级标准
      动态范围:10-1,000,000cd/m2
      测量精度:优于±5%
      分辨率:0.01cd/m2
      示值误差:优于±5%

    • 光学系统测量视场:1o

    • 色品坐标x、y、u、v(测量条件:亮度>10cd/m2)
      测量精度:x、y优于±0.002(标准A光源,100cd/m2)
      重复性:x、y优于±0.0005(标准A光源)

    • 相关色温Tc(测量条件:亮度>10cd/m2)
      动态范围:1350-25000K
      分辨率:1K
      测量精度:优于±20K(标准A光源,100cd/m2)

    • 温度系数:-0.1%/℃

    • 刷新频率:1次/s(≥10cd/m2); 1次/3s(<10cd/m2)

    • 测量距离0.7m~∞

    • 显示:128×64图形LCD显示

    • RS232接口,可用于计算机远程监控

    • 具有保持功能

    • 供电电源:9V电池或外接本公司原装直流变换器

    • 主机尺寸:135L×72W×130H(mm)

    • 主机重量:2kg

    • 保修期:1年

    • 随机附件:电池、光盘、通讯线和说明书

 

 

 

 

 

产品名称:声波测厚仪
产品型号:RTY-098

声波测厚仪 型号:RTY-098


应用范围 
  RTY-098声波测厚仪采用声波测量原理,适用于能使声波以一恒定速度在其内部传播,并能以其背面得到反射的各种材料厚度的测量,可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。   
性能指标 
 测量范围: 0.75~300.0mm(由探头决定) 
精确度: ±(0.5%H+0.1)mm 
管材测量下限(钢):  φ20mm×3.0mm(5MHZ)
 φ15mm×2.0mm(10MHZ) 
 声速调节范围:  1000m/s~9999m/s 
已知厚度反测声速: 
 测量范围:  1000m/s~9999m/s  
建议试块厚度 ≥20mm(声速测量精度为±5%) 
使用环境温度: 0℃~40℃  
电源: 二节5号电池 
外形尺寸:  150mm×73mm×32mm 
重量: 400g  

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:数字式四探针测试仪
产品型号: SZT-I 停产 

数字式四探针测试仪型号:SZT-I
SZT-I型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位,对半导体材料的电阻性能测试。 
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,游移率小,使用寿命长。 
技术参数: 
1. 测量范围: 
电阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方块电阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
电阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
导电类型鉴别:电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2. 可测半导体材料尺寸 
直径:φ15~100 mm 
长度:≤400mm 
3. 测量方法: 
轴向、断面均可 
4. 显示方式:31/2,数显,性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。 
5. 恒流源: 
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。 
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA 
(3) 误差:±0.5%读数±2个字 
6.四探针测试探头 
(1) 探针间距:1mm 
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% 
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W 
 

 

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