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  • TC-AB930D-30绕组匝间冲击耐电压试验仪
    TC-AB930D-30绕组匝间冲击耐电压试验仪

    绕组匝间冲击耐电压试验仪 2、波前时间:0.5µs±30% 3、储能电容:0.1µF 4、冲击次数:5次 5、适用范围:1140V~10000V电机 6、测量方法:存储比较法

    更新时间:2024-09-09型号:TC-AB930D-30浏览量:1743
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  • TC/EST101防爆型静电电压表
    TC/EST101防爆型静电电压表

    防爆型静电电压表 静电电压表 静电测试仪 防爆静电测试仪 静电检测仪 TC/EST101型防爆静电电压表是在吸收*静电仪表的基础上,经广大用户10多年使用并多次改进的新型高性能、低价格静电电压表(静电电位计)。

    更新时间:2024-09-09型号:TC/EST101浏览量:1564
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  • TC/EST120便携式高阻计TC/EST120
    TC/EST120便携式高阻计TC/EST120

    便携式高阻计TC/EST120 本仪器是在原TC/BL-87型数字高阻计的基础上改进的新产品,是高集成度的3 1/2位数字显示便携式高阻计。量限从1×103Ω ~1.999×1012 Ω(直接读电阻值或测量电导、Z大可测电阻1×1015Ω)。

    更新时间:2024-09-09型号:TC/EST120浏览量:1092
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  • TC-KDY-4四探针电阻率测试仪TC-KDY-4
    TC-KDY-4四探针电阻率测试仪TC-KDY-4

    四探针电阻率测试仪TC-KDY-4 TC-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进

    更新时间:2024-09-09型号:TC-KDY-4浏览量:1246
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  • TC-KDY-1A四探针电阻率测试仪
    TC-KDY-1A四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

    更新时间:2024-09-09型号:TC-KDY-1A浏览量:1194
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  • TC-KDY-1四探针电阻率测试仪
    TC-KDY-1四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪 四探针电阻率仪 方阻测试仪 方阻仪 四探针电阻率测定仪 四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。

    更新时间:2024-09-09型号:TC-KDY-1浏览量:1768
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